まずまず晴れており、それほど寒くなかった。
今日は朝から装置講習。SPMの液中セル測定というやつで、なんと水に入ったままのものをナノスケールで観察できる。まぁ自分のような金属系ではそれほど出番はないかもしれないが、乾燥させたら壊れる細胞の観察などに力を発揮しそうだ。結局電子顕微鏡のほうが観察しやすいのでSPMはたまに使う程度だが、液中での観察のほか、表面電位測定・磁気力測定・表面硬さ測定などプローブでなければできない測定もある。
午後は走査電子顕微鏡観察。以前から気になっていた反射電子検出器の使い方も教えてもらう。走査電顕は、種類にもよるが、上のほうについている二次電子検出器(SEI)、使うときに二次電子検出器の下に差し込む感じの反射電子検出器(TOPO,COMPO)、下についている、二次電子検出器と似たような感じの下方検出器(LEI)がある。それぞれの位置と仕組みを理解しておくと、試料をどう傾けたら像がどう変わるかなどがイメージしやすい。反射電子検出器は、ドーナツ型で2分割されており、その2箇所での検出を足したり引いたりすることで、TOPO像とCOMPO像を得るらしい。そしてTOPO像は表面の凹凸が強調される像が得られ、COMPO像は組成像とも呼ばれ、原子番号に対応してコントラストのついた像が得られる。というわけでとても期待して使ってみたものの、非常に焦点が合わせにくく、像質も低下し数千倍～1万倍でないとあわせられないようで、あまり使えない。うーむ残念。いちいちEDSでマッピングしなくてもどこに何があるか見当がついてよいと思ったのだが。
分析装置のレンタルセンター的なところに新しくTEMが入り、そのうち一般利用されるらしい。これは混むだろうなぁ。フィルムではなく、完全にCCD検出のデジタル式だから便利そうだ。ちゃぽちゃぽ現像しなくていいからなぁ。結構期待。
新4年生の研究テーマが決まり、結局自分の下に学生は来ないことに。うーむ、下に学生が来るのもいいかなとは思っていたのだが。まぁ実験方法やいろいろな分析装置を教えたりするのも大変だしなぁ。