朝から曇りがちで、午後から雨も降った。
今日は原子間力顕微鏡(AFM)の説明を受けてきた。原子間力顕微鏡は、試料表面に針を接触させたり、近づけたりして、表面の形を知ることができるものである。似たようなものに、針と試料の間に流れるトンネル電流を測定する走査型トンネル顕微鏡(STM)というのもあり、まとめて走査型プローブ顕微鏡(SPM)と言うらしい。電子顕微鏡の場合は高真空が必要で、導電性の問題などがあるが、AFMの場合は大気下での測定もできるし、導電性も問題にならないというので、ちょっと期待したわけだが、実際はかなり面倒なものであった。米粒の半分くらい大きさの板に針がついていて、これをピンセットでつまんでセットしなければならず、誤って落としてしまうと針が折れてもうおしまい、1000円の損失である。取り付けた後も手動で試料に近づける際に針が折れることもあり、とにかく操作に熟練が必要で、なかなかシビアであった。今度新しく入ってくるAFMは、操作性がかなり向上するそうなので、そちらを勧められた。なかなか、実際説明を受けないとわからないしなぁ。